Aplicação de deep learning para a detecção de anomalias. Um estudo de caso sobre otimização de sistemas industriais para fabricação de dispositivos eletrônicos

"Aplicação de deep learning para a detecção de anomalias. Um estudo de caso sobre otimização de sistemas industriais para fabricação de dispositivos eletrônicos" (Mestrado). Candidato: Luis Augusto Libório Oliveira Fonseca. Orientador: professor Yuzo Iano. Dia 2 de março de 2023, às 10 horas, na sala LE48 da FEEC.

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