Sistema de sensoriamento de estresse mecânico em circuitos integrados de Silício e dispositivos microeletrônicos empacotados

"Sistema de sensoriamento de estresse mecânico em circuitos integrados de Silício e dispositivos microeletrônicos empacotados" (Doutorado). Candidato: Jose Luis Ramirez Bohorquez. Orientador: professor Fabiano Fruett. Dia 21 de novembro de 2019, às 9h30, na sala LE46 da FEEC.

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