"Contribuição para as técnicas de detecção de falhas em placas de circuito impresso utilizando a transformada rápida de wavelet" (Mestrado). Candidato: Daniel Katz Bonello. Orientador: professor Yuzo Iano. Dia 20 de janeiro de 2020, às 9 horas, na sala LE46 da FEEC.
Contribuição para as técnicas de detecção de falhas em placas de circuito impresso utilizando a transformada rápida de wavelet
